Leica EM TIC3x – использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для СЭМ и АСМ исследований, а также проведения EDS (энергодисперсионный элементный анализ), WDS (волнодисперсный элементный анализ), Auger (анализ оже-электронов) и EBSD анализа (дифракция обратно рассеянных электронов). Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп. Для обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску.
Стоимость доставки составляет 3% от цены микроскопа, в среднем это около 10000 рублей.
В СНГ работаем только со странами входящими в Таможенный Союз.
Регионы доставки: СНГ, Россия, Москва и Московская область
У Вас возникли вопросы? Мы Вам поможем!
Получите консультацию по телефону, либо воспользуйтесь формой обратной связи:
Задавайте Ваши вопросы в нашей группе ВКонтакте: